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icp光譜分析儀如何消除因光譜及樣品物理性質(zhì)帶來的干擾

更新時間:2021-12-16點擊次數(shù):1739
   icp光譜分析儀主要用于微量元素的分析,可分析的元素為大多數(shù)的金屬和磷、硅、硫等少量的非金屬物質(zhì),數(shù)量高達(dá)72種之多,是當(dāng)前光譜分析中迅速靈敏的一種儀器。采用等離子光學(xué)接口完成消除水平觀測時尾焰的影響、全譜CCD技術(shù)和多視角等離子體定位等新技術(shù),有高靈敏度、高精度以及波長范圍寬等特性。
  icp光譜分析儀分析過程中有時會受到一些不利因素干擾,導(dǎo)致分析數(shù)值不準(zhǔn)確,就好比說光譜或樣品物理性質(zhì)干擾,因此就需要用不同的方法去消除此類干擾,這對于新手來說還是存在一定難度,但并不是不能解決,只要方法找對了,其實也不難!

  先來說說光譜干擾:是常見的干擾,跟試樣類型有關(guān),在軟件中可以看出來有沒有光譜干擾。
  消除方法參考:雙邊校正背景方式,通過調(diào)節(jié)兩個背景點的位置和像素點來消除干擾;若干擾很嚴(yán)重可用MSF模型。IEC用的很少。

  那么對于物理干擾怎么理解呢:因為樣品首先進(jìn)行霧化,粘度不一樣,霧化效率不一樣,形成氣溶膠效率不一樣,到達(dá)中心管的速度不一樣,從而引起強度值的變化。1%的硝酸和5%的硫酸通過相同的條件進(jìn)行霧化,出來的液滴大小不一樣,這是由于樣品物理性質(zhì)的干擾對測定造成的影響。
  消除方法參考:首先保證載氣流量的穩(wěn)定,采用復(fù)配方式測定,配標(biāo)液可用到異辛烷;基體大致相同;基體校正系數(shù)法,用的較少;標(biāo)準(zhǔn)加入法;內(nèi)標(biāo)法,加內(nèi)標(biāo)元素進(jìn)去,讓它時時監(jiān)控霧化效率和傳出效率,如果有改變,可按照系數(shù)計算。

ICP光譜儀

 

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